Четверг, 28.03.2024, 16:57
Приветствую Вас Гость | RSS

®NEXT GEN®

Главная » 2009 » Июль » 23 » ®Первые тесты производительности 34-нанометровых SSD Intel X25-M®
®Первые тесты производительности 34-нанометровых SSD Intel X25-M®
22:47


По словам производителя, по сравнению с 50-нанометровой версией X25-M новые накопители характеризуются повышенным быстродействием. Задержки уменьшены на 25%, количество операций ввода-вывода в единицу времени в режиме произвольной записи достигает 6600 IOPS, в режиме чтения — 35000 IOPS.
 
Источник не преминул протестировать образец накопителя, в котором используется 34-нанометровая память, показанный на верхнем снимке.
 


Тест ATTO показывает увеличение примерно на 10% скорости записи по сравнению с X25-M первого поколения.



Тест HDTach RW показывает примерно такое же улучшение в скорости записи.

Категория: HARDWARE | Просмотров: 555 | Добавил: SHADOW | Рейтинг: 0.0/0 |
Всего комментариев: 0
Добавлять комментарии могут только зарегистрированные пользователи.
[ Регистрация | Вход ]
Меню сайта
Разделы новостей
HARDWARE [1393]
SOFTWARE [1393]
Форма входа
Календарь новостей
«  Июль 2009  »
ПнВтСрЧтПтСбВс
  12345
6789101112
13141516171819
20212223242526
2728293031
Поиск
Друзья сайта
Сайт СЕРЬЁЗНЫЕ ЛЮДИ С ЧУВСТВОМ ЮМОРА
Статистика

Онлайн всего: 1
Гостей: 1
Пользователей: 0
Мини-чат
Copyright MyCorp © 2024