Главная » 2009 » Июль » 23 » ®Первые тесты производительности 34-нанометровых SSD Intel X25-M®
22:47
®Первые тесты производительности 34-нанометровых SSD Intel X25-M®


По словам производителя, по сравнению с 50-нанометровой версией X25-M новые накопители характеризуются повышенным быстродействием. Задержки уменьшены на 25%, количество операций ввода-вывода в единицу времени в режиме произвольной записи достигает 6600 IOPS, в режиме чтения — 35000 IOPS.
 
Источник не преминул протестировать образец накопителя, в котором используется 34-нанометровая память, показанный на верхнем снимке.
 


Тест ATTO показывает увеличение примерно на 10% скорости записи по сравнению с X25-M первого поколения.



Тест HDTach RW показывает примерно такое же улучшение в скорости записи.

Категория: HARDWARE | Просмотров: 498 | Добавил: SHADOW | Рейтинг: 0.0/0
Всего комментариев: 0
Добавлять комментарии могут только зарегистрированные пользователи.
[ Регистрация | Вход ]
Форма входа
Категории раздела
HARDWARE [1388]
SOFTWARE [1390]
Меню сайта
Добавить
Узнай свой IP
Поиск
Календарь
Мини-чат
Друзья сайта
Сайт СЕРЬЁЗНЫЕ ЛЮДИ С ЧУВСТВОМ ЮМОРА
Статистика

Онлайн всего: 1
Гостей: 1
Пользователей: 0
Архив записей